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椭偏技术在薄膜光学测量中的应用研究
发布时间:2019-12-13浏览次数:36返回列表

张雅娟(武汉职业技术学院电信学院,湖北武汉430074)

【摘要】首先将阐述了ITO 薄膜的特点,并将其与AZO 薄膜的特点进行比较,然后结合当前的实际应用对ITO 薄膜的应用做了一定的归纳和总结,对未来ITO 薄膜的广泛应用进行展望。

【关键词】ITO;TCO;AZO;电导率

由于薄膜产品特别是各种光电产品薄膜,在太阳能电池、等离子技术、光学薄膜期间、微电子器件等方面有着广泛应用,因此收到光学材料界的高度重视。能否准备无误测量出各种薄膜的光学厚度也成为人们关注的焦点,尤其是在光电子产业的生产中,薄膜的光电特性参数———膜厚多少直接关系到薄膜产品是否能正常工作,能否对镀膜工艺有所改进等诸多问题,可见膜厚测量的重要性。而椭偏技术在测量薄膜的厚度和介质折射率等参数方面得到了广泛应用。在现代科学技术中,薄膜有着广泛的应用,因此测量薄膜的技术也有了很大的发展。膜厚的测量方法有电阻法、放电电压法、电容法、激光衍射法、光纤位移传感器法、椭偏法以及超声共振法等等。随着由于电子计算机的广泛应用而发展起来的目前已有的测量薄膜的最精确的方法之一就是椭偏法。膜厚测量方法一般是从两个角度出发,要么从光学理论出发,用光的波动性包括干涉、衍射、偏振等方法来测量膜厚;要么从具体实际出发,根据测量厚膜的实验环境和条件不同,例如根据光源的不同,是激光源进行测量还是用普通白光源进行测量等等,选用不同的测量方法。不同的测量方法所带来的膜厚测量的精确度也不一样。

一、椭偏技术原理

当振幅为A 的面偏振光入射到石英晶体做成的1/4 波片时,若振动方向与波片光轴夹角为θ,o 光和e 光的振幅分别为A0=Asinθ 和Ae=Acosθ。从波片出射后的o 光和e 光的合振动方程为椭圆方程,合振动矢量的端点轨迹一般为椭圆,即获得椭圆偏振光,再将其经过待测薄膜产品表面反射,反射光是线偏振光。由之前的椭偏到后来的线偏,光振动的相位和振幅发生了改变,通过这些参数变化即可判定薄膜产品的表面光学特性。

二、几种测量方法的比较

(1)根据激光透射法测量膜厚,以光在基体内不产生干涉为前提。用这种方法可以获得相当高精度的膜厚测量,数量级为几nm,能测量膜厚为1 到几百nm 的薄膜。但由于设备复杂,环境要求高,只能在实验室进行。(2)采用激光反射法测量膜厚,有很大的优势———测量范围大,从微米级到纳米级都可以,但是调试过程繁琐,难于实现。(3)基于白光光源的颜色色调检测法制成的椭偏仪测量膜厚时,实施起来不难,但不能用来测量均匀膜厚,而只能用来测量不均匀膜厚,测量范围虽和透射法测量膜厚的范围差不多,但精度低,系统误差较大。(4)采用分光光度测量法做成的椭偏仪,测膜厚的效率较高,设备成本也不高,容易实现。测量膜厚范围虽然是微米级别,但精度比较高。(5)采用激光光源进行激光干涉法的椭偏仪中,激光束通过显微镜,入射到放在焦点处的薄膜产品后,薄膜的上面两个表面分别反射出的光在特定的位置发生等倾干涉,在观察面用CCD 接收,根据与CCD 相连的计算机软件分析干涉图样,即可计算出薄膜产品的膜厚。这种椭偏仪结构简单、测量迅速,很适合在工业生产线上测量10~100um 的膜厚,但精度只能达到um数量级。通过上述分析和比较,不难发现,利用薄膜上下两表面反射光干涉原理制成的椭偏仪测量范围适中,但精度很高,而且设备简单,容易在实验室以外的地方实现,适合工业检测。

三、应用

利用椭偏技术作成的椭偏仪在不断发展,测量的光谱范围越来越宽,可以满足不同镀膜材料的测量要求,针对在红外、紫外波段要进行特殊材料的测量要求,也出现了专用椭[来自wWw.lW5u.Com]偏仪;椭偏技术覆盖了半导体、大面积光学薄膜、有机薄膜、金属、玻璃等各种材料的工业实时检测领域。同时随着计算机技术的迅速发展,使得椭偏仪的自动化程度得到提高,也促成了椭偏仪的自动控制系统和计算机的深入结合。由于椭偏测量技术的高精度、高效、设备简单等特点广泛地应用于科学研究与工业生产中,例如对材料的光学性质测量。被测的材料可以是固体或是液体,可以是各向同性或异性。根据菲涅尔公式,椭偏测量技术也可用于不同材料交界面的分析。在微电子与半导体产业中,椭偏测量技术常用于半导体加工或微电子研究中薄膜生长的监控与分析,现代新材料的研究开发也常常使用椭偏技术作为研究手段。在生命科学领域里,椭偏测量技术可用于细胞表面膜相互作用、蛋白质等大分子的测量。

四、结论

随着光电技术以及微电子技术的快速发展,表面和薄膜科学,微电子器件及纳米技术等迅速发展,将使一起开发和检测方法体系研究成为真空镀膜技术中的发展重点。薄膜的应用领域越来越广,各种厚度只有几百甚至数十纳米的单层或多层功能薄膜成为当前材料研究的热点。薄膜的厚度、折射率和消光系数决定了薄膜的投射、反射和吸收等各种光学特性。椭偏法具有无损非接触、高灵敏度、高精度的特点、无需特别制备样品,能对数纳米厚的超薄薄膜测量,无疑是比较可靠的测量方法。当然,在测量膜厚时依然存在某些问题,例如膜厚范围的扩大等,都有待于进一步探索和研究。

参考文献

[1]陈国平. 薄膜物理与技术[M].南京:东南大学出版社,1993(1)

[2]尚石煊等. 近代物理实验技术(II)[M]. 北京:高等教育出版社,1993

[3]F.A.Jenkins,H.E.White 著,杨光熊,郭永康译. 光学基础(上)[M].北京:高等教育出版社,1990[4]L.Eckertora.Physics of th[来自www.lw5u.Com]in fil

ms[M].New York:plenum press,1977[5]黄佐华,何振江,杨冠玲等. 多功能椭偏测厚仪[J]. 光学技术.2001(8)

[6]王晓栋等. 椭偏光谱法研究溶胶凝胶TiO 8029 2 薄膜的光学常数[J].物理学报.2009(11)

[7]周毅等. 椭偏与光度法联用精确测定吸收薄膜的光学常数与厚度[J].物理学报.2010(4)

[8]母国光,战元龄.光学[M]. 北京:人民教育出版社,1978(9)[9]R.M.A.Azzam,N.M.Bashara.Ellipsometry and Polarized Light [M].North-Holland Publishing Company,1977

[10]吴思成,王祖栓.近代物理实验[M].北京:高等教育出版社,2005[11]吴先球,熊予莹等. 近代物理实验教程[M]. 北京:科学出版社,2009(2)

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